HTIM-1000A高溫電阻測試儀
HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環(huán)境下對導電及半導電材料的電阻進行評估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備 英寸觸摸屏, 10軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,這種方式也易存在感應電流,無法實現(xiàn)溫度的測量,也加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時,具有良好的溫度分布。 可實現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,用石英管保護加熱式樣,無氣氛污染??稍诟哒婵眨叱黾兌葰怏w中加熱 。大大提高精確度,也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途.
HTIM-1000A高溫電阻測試儀搭配系統(tǒng)開發(fā)的軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
高溫低電阻測試儀可實現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。
高溫低電阻測試儀可實現(xiàn)小于±0 .25 ℃溫 度測量誤差(限反射爐)。
二、HTIM-1000A高溫電阻測試儀優(yōu)勢:
1、整體為桌面型設(shè)計,采用紅外燈加熱,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實驗室無灰塵排放的要求。
2、內(nèi)置工控機、觸摸屏,可以利用工控機設(shè)定加熱曲線,并實現(xiàn)和其他測試設(shè)備的集成控制。
3、定點控溫模式下,可以將樣品 1 0s內(nèi)加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下,可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續(xù)工作時間不低于1 小時。
6、采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
8、配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
9、溫度均勻區(qū):60 m m *1 0 0m m。
10、的高溫低電阻測試系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與keithley(吉時利)系列、2400、 2450、 2600 系列源表測量設(shè)備無縫連接。
三、高溫低電阻測試儀硬件配置:
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
█ 集成打機印接口,可擴充8 個 USB 接口
█ 支持16G 內(nèi)存, 60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運行 流暢
軟件功能:
測試系統(tǒng)的軟件平臺采用labview 系統(tǒng)開發(fā),符合絕緣材料的各項測試需求,具備的穩(wěn)定性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。兼容XP 、win7 、 win10系統(tǒng)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報警功能。
產(chǎn)品特點:
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
四、產(chǎn)品應用:
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 導電功能薄膜材料
█ 導電玻璃(ito )材料
█ 石墨烯材料
█ 半導體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明 導電薄膜
█ 其它導電材料等
功能特點:
█ 多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進行測試
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度;
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;
█ 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度精準;
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸觸摸屏設(shè)計,一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠;
█ 程控電子升壓技術(shù),紋波低、TVS防護系統(tǒng),保證儀器性;
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;
█自動分析控制分析軟件。
技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:室溫-1200℃, (反射爐加溫 )配水冷機;
2、控溫精度:(溫控最高) ±0 5℃ ;
3、測量精度: ± 0.25℃;
4、升溫斜率:20℃/min (可設(shè)定);
5、降溫斜率: 1-200℃/min ( 自調(diào)整);
6、測量精度:0.5%;
7、樣品規(guī)格:直徑: 20mm 以內(nèi);厚度: 5mm以內(nèi);
8、電極材料:鉑金;
9、測量方式:2 線- 4線測量方式;
10、測量范圍: 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 電:220V±10%,50Hz;
12、工作環(huán)境:0℃ - 55℃;
13、存儲條件:- 40℃-70℃;
14、尺 寸:850mmX750mmX450mm;
15、重 量:30 kg
主要參數(shù):
產(chǎn)品型號 | 溫度范圍 | 設(shè)備功能 |
HTIM-1001A | 室溫-600C° | 單組試樣;片狀樣品;三環(huán)電極法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HTIM-1001A | 室溫-800C° | 單組試樣;片狀樣品;三環(huán)電極法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HTIM-1001A | 室溫-1200C° | 單組試樣;片狀樣品;三環(huán)電極法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HTIM-1001A | 室溫-1450C° | 單組試樣;片狀樣品;三環(huán)電極法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |